CBTZ-3100Z型自动对位探针台能
对晶片实现自动对位测试，操作简单，
快捷，测试精度高，具有MAP显示功
能。它与测试仪连接后，能自动完成
对各种晶体管芯的电参数测试及功能
测试 。 |
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操作方式 CBTZ-3100Z型自动对位探针台
提供了清晰直观的触屏操作页面，
手触点击即可完成对晶片的自动对
位测试。
机器软件的操作界面 | 除此之外还提供了更加简洁 方 便的小键盘操作方式，操作者可依据 个人偏好和习惯选择任意种操作 。
功能小键盘 |
机器功能 具有自动扫描对位功能，对位精度
高、速速快，Windows7界面，动态map
图显示测试过程。
| 具有圆形测试，范围重测，探边
测试，范围打点，回收测试，矩形
测试和脱机打点多种测试功能。
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具有X、Y、Z三轴运动结构，操作软
件能对垂直度、平面度进行精度补偿，保
证机器的控制精度和工作的稳定性。
| 具有实时打点、脱机打点和滞
后打点功能。新型打点器，使用时
间长达3天，不滴墨，省去60%的操作时间。
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具有Z轴行程分段运动功能，其
分为基本高度、接触高度、接触缓冲、
过冲高度和折回高度，并且具有探边
功能，防止测试过程中探针对芯片的
划伤和探针与芯片的接触不良。
| 测试针痕比例图片（反光白点为针痕）
多个芯粒 |
特点：隔振支撑采用高***复合材料隔振，隔振性能接近充气平台，维护调整工作量少，结构稳固。
应用范围：环境振动较好,且要求垂向位移变化小的实验。
沪公网安备31011502016460号
