***、T-4系列软针

T-4-10针尖在电镜下扫描成像

T-4系列软针较多的应用于点测集成电路的线路，电

极，或者 FIB(聚焦离子束)制作的  mini电极。

T-4系列软针的结构采用不同直径钨材质针须焊接

于镀锡的铜材质针杆上。

其中T-4-10和T-4-22两款是客户反馈比较有优势的

型号，因为其针须直径较细，具有良好的弯曲弹性，

能够极大的减少对芯片电极的损害，在部分震动环

境下面也能够保证和电极的良好接触。

T-4软针不建议在敏感节点使用，因为会产生电容负

载的问题，在此环境下，建议使用高阻抗  Picoprobes

型号

针须直径

针尖直径

针须长度

T-4-5

5微米

<0.2微米

0.13" (3.3mm)

T-4-10

10微米

<0.2微米

0.13" (3.3mm)

T-4-22

22微米

<2.0微米

0.20" (5.1mm)

T-4-35

35微米

<4.0微米

0.20" (5.1mm)

T-4-60

60微米

<6.0微米

0.20" (5.1mm)

T-4-125

125微米

<10.0微米

0.20" (5.1mm)

ST系列硬探针

ST系列探针尺寸图

ST系列硬针是  0.020 inch (0.51mm)直径钨材质针杆经过精密电化学加工成为不同的针

尖直径，长度为 1.5inch(38.1mm)的探针。这种探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线

路点测。

ST系列硬针可以用于与刮擦或者刺穿芯片表面钝化层。该探针可以选择表面镀镍，如果

选择镀镍则型号后面增加“NP”。