德***布鲁克 光学轮廓仪NPFLEX 3D

NPFLEX 三维表面测量系统

针对大样品设计的非接触测试分析系统
灵活测量大尺寸、特殊角度的样品
gao效的三维表面信息测量
垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节
快速获取测量数据，测试过程迅速gao效

NPFLEX 为大尺寸工件精密加工提供准确测量
布鲁克的NPFLEXTM 3D表面测量系统为精密制造业带来前所未有的检测能力，实现更快的测量时间，提高了产品质量和生产力。基于白光干涉的原理，这套非接触系统提供的技术性能超出了传统的的接触式坐标测量仪（CMM）和工业***探针式轮廓仪的测量技术。测量优势包括获得高分辨的三维图像，进行快速丰富的数据采集，帮助用户更深入地了解部件的性能和功能。积累几十年的干涉技术和大样本的仪器设计的经验，NPFLEXTM是di***个可以灵活地测量大尺寸样品的光学测量系统，而且能够gao效快捷地获得从微观到宏观等不同方面的样品信息。

其灵活性表现在可用于测量表征更大的面型和更难测的角度样品

• 创新性的空间设计使得可测零件（样品）更大、形状更多

• 开放式龙门、客户定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松测量想测部位

gao效的三维表面信息测量
 

• 每次测量均可获得完整表面信息,并可用于多种分析目的

• 更容易获得更多的测量数据来帮助分析

垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节
 

• 干涉技术实现每***个测量象素点上的亚纳米***别垂直分辨率

• 工业界使用多年业已验证的干涉技术提供具有统计意义的数据，为日渐苛刻的加工工艺提供保障

测量数据的快速获取保证了测试的迅速和gao效
 

• ***少的样品准备时间和测量准备时间

• 比接触法测量（***条线）更大的视场（***个面）获得表面更多的数据