梅特勒电子天平XPE205DR
仪器简介:
XPE分析天平提供卓越的分析称量性能,并满足至高的安全性、效率且易于合规。XPE 分析天平重复性低,因此提供更小的称量值;质量管理特征,例如创新的状态指示灯 (StatusLight)和获得专利的静电检测 (StaticDetect) 技术,可免除您在称量方面的担忧并对获得值得信赖的结果;凭借各种选件和多个连接选项,XPE 天平可满足您日益增长的需求。您可在今后数年进行各种称量;瑞士设计与制造,卓越的品质值得您信赖。
产品特性:
精确的结果:高分辨率技术、采用灵敏度测试的内部校正、内部温度控制、静电检测 (StaticDetect™)
高效操作:彩色触摸屏、采用 11 种语言的用户界面、易巧称量件 (ErgoClip) 用于直接加样、易于清洁、悬挂式网格秤盘 (SmartGrid)动态图形显示 (SmartTrac) 指导的加样至目标
、自动防风罩、红外感应器 (SmartSens),实现用于无需用手接触的操作
称量保证:图形化水平控制系统和分***别警告、***小称量值 (MinWeigh) 保护、测试管理器、FACT、GWP 和管理员记录、与用户及密码保护、状态指示灯 (StatusLight)
无缝过程:Quantos 更新就绪、LabX 就绪、射频识别 (RFID) 通信就绪、***体化去静电装置就绪、内置的 RS232 接口和第 2 个接口选件插槽