HORIBA UVISEL Plus研究***经典型椭偏仪
仪器简介：
椭圆偏振光谱是***种无损无接触的光学测量技术，基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变，通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等，可测厚度范围为几埃至几十微米。此外，还可以测试材料的反射率及透过率。
技术参数：
* 光谱范围: 190-885 nm（可扩展至2100nm）
*微光斑可选50μm-100μm-1mm
*探测器：分别针对紫外，可见和近红外提供优化的PMT和IGA探测器
*自动样品台尺寸：多种样品台可选
*自动量角器：变角范围40° - 90°，全自动调整，小步长0.01°
主要特点：
*50KHz 高频PEM 相调制技术，测量光路中无运动部件
*具备超薄膜所需的测量精度，超厚膜所需的高光谱分辨率
*具有毫秒***超快动态采集模式，可用于在线实时监测
*自动平台样品扫描成像、变温台、电化学反应池、液体池、密封池等多种附件
*配置灵活
沪公网安备31011502016460号
