传感器

CMOS 线性传感器

光谱波长范围

380 to 780 nm

波长资料间隔

1 nm

光谱波宽

约12 nm （半波宽）

量测区域

Ø10 mm

受光角度

±1°

波长再现性

± 1 nm

量测范围

0.001 to 5000 cd/m2

亮度*1*2

测量范围

0.05~5000 cd/m2

精度

±2% 100 to 5000 cd/m2

±3% 0.2 to 100 cd/m2

±4% 0.05 to 0.2 cd/m2

重复性 (2σ) *3

0.2% 100 to 5000 cd/m2 0.5% 0.2 to 100 cd/m2

0.8% 0.05 to 0.2 cd/m2

色度*1*2

测量范围

0.05~5000 cd/m2

精度

±0.002 in CIE1931 x, y for white 100 to 5000 cd/m2

±0.003 in CIE1931 x, y for white 0.2 to 100 cd/m2

±0.005 in CIE1931 x, y for white 0.05 to 0.2 cd/m2

重复性 (2σ) *3

0.0005 in CIE1931 x, y for white 100 to 5000 cd/m2

0.001 in CIE1931 x, y for white 0.2 to 100 cd/m2

0.002 in CIE1931 x, y for white 0.05 to 0.2 cd/m2

杂散光

-25 dB max *4

偏极化误差

<2%

积分时间

100us to 5000 ms  （快速模式/一般模式）

数位分辨率

16 bits

频闪

测量范围

5 to 5000cd/m2

取样速度

100k sample/sec (adjustable)

对比度

精度

±1%（30Hz AC/DC 10%  正弦波）

±2%（60Hz AC/DC 10%  正弦波）

重复性

1%（20 to 65 Hz AC/DC 10% 正弦波）

JEITA

精度

±0.5dB（30Hz AC/DC 10% 正弦波）

重复性

0.3dB（30 Hz AC/DC 10% 正弦波）

特点

量测功能

单次 / 连续

操作模式

RS232 模式 / USB 模式（PC 连接）

积分时间

自动 / 手动

暗校正

自动

光谱量测项目

1.  亮度（cd/m2）

2.  相关色温（CCT）

3. C.I.E 色度坐标图

(1) CIE 1931 2-degree, 10-degree x,y Coordinates (2) CIE 1976 2-degree, 10-degree u＇,v＇ Coordinates (3) CIE 1931 XYZ Value

4. △x , △y , △u＇ , △v＇

5. Delta uv（Duv）

6.  主波长（λd）

7.  色纯度（Excitation Purity）

8.  演色指数（CRI, Ra）/ R1 to R15

9.  光谱功率分布（SPD）mW/m2

10.  峰值波长（λp）

11.  峰值强度（λpV）

12.  积分时间（I-Time）

13.  暗明视觉比（S/P）

频闪量测项目

1. Max / Min, Average, RMS and Frequency

2. JEITA

3. VESA

4. 频闪百分比（Percent Flicker）

5. 频闪指数（Flicker Index）

系统配置

电源

变压器5V, 1.0A

接口

RS232 ; USB 2.0

尺寸

204 x 90 x 45 mm （长x 宽x 高）

重量

630 g ± 10 g

操作温度/ 湿度

0 to 35 ℃，相对湿度70％或以下，无冷凝

储存温度/ 湿度

-10 to 40 ℃，相对湿度70％或以下，无冷凝

软件

SDK Solution ( Windows platform ), uSPECTRUM, uFLICKER

*1：在标准光源下(2856K、6500K & 9300K)进行亮度及色度测试。

*2：在温度23±2℃，相对湿度50%以下进行亮度及色度测试。

*3：在快门长开的状态下，进行重复性测试。

*4：使用550nm单频光输入与量测550nm±40nm位置的量测比例值。