2991系列单晶材料X射线晶片定向仪
价 格:询价
产 地:日本更新时间:2020-10-22 08:54
品 牌:Rigaku型 号:2991系列
状 态:正常点击量:2142
400-006-7520
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半导体评价测定系列
·晶体、半导体材料的方位测定;
·精度高、使用寿命长;
·丰富多彩的附件。
产品参数
主要规格:
X射线发生器:30KV-5mA(max) Cu;
检测器:SC;
测角精度:±30s(2991F2) ±0.01°(2991G1);
角度表示:数字表示(度、分、秒);
入射狭缝:0.05 0.1 0.2mm 3种;
样品尺寸:max 6英寸(2991F2) max8英寸(2991G2);
X射线防护罩:(option)。
产品介绍
应用范围:
晶片的偏差角测定;
半导体Wafer的方位测定;
晶体Ingod的切割面测定;
各种半导体材料的方位测定;
Orientation-Flat的测定。