二次质谱仪（SIMS）是***前沿的表面分析技术。确立于40多年前，它揭示了极表面

和近表面的原子层的化学组成。这种信息远远超过了为鉴定有机组成部分的分子结

构所需的简单元素分析。

应用：

单分子层水平表面信息　　薄膜纵剖面分析

所有元素检测　　　　　　有机物质鉴定

表面污染鉴定 高灵敏度分析　　　　　　

快速化学组分成像等表面分析领域

SIMS一个主要的特征是对表面（固定SIMS）的固定区域的原位分析。扫描聚焦探测

光束（影像SIMS）生成一个表面成分图仅需几秒钟（而不是几分钟）。延展的分析

通过深度刻蚀表面而显示表层下面变化的组成（动态SIMS）。所有这些能在只需少

量而不需任何样品准备的情形下操作成功，并且具有高灵敏度，同时可使分析时间

降至最短。

Millbrook MiniSIMS是在一个紧凑的半开式可移动仪器中开发的SIMS功能技术。

仅需一个标准的主电源以供操作，放置极为方便。完全的计算机控制使得操作简

便，并且自动获得数据。通过英特网的远距离控制使您使用SIMS更为方便。

MiniSIMS使得室内表面分析仪器，在很大范围的情形下成为一种操作简便经济实

用的方式，低成本的资金和维护费用以及高的样品产出，意味着每个样品的总费用

要比使用传统的SIMS仪器减少90%