UC36M工业相机晶体检测半导体缺陷检测UC36C(MGYY/MGNN)工业相机产品简介UC36M工业相机晶体检测半导体缺陷检测UC36C(MGYY/MGNN)工业相机采用了行曝光(Rolling Shutter)高分辨率CMOS图像传感器。UC36M工业相机晶体检测半导体缺陷检测UC36C(MGYY/MGNN)工业相机采用USB 2.0标准接口传输图像数据,安装简单方便。UC36M工业相机晶体检测半导体缺陷检测UC36C(MGYY/MGNN)工业相机能运行在32bit/64bit的Windows 7/Vista/XP及Linux系统上,配套的SDK支持VC、VB、Delphi、C#、Labview等开发工具,并且支持Dshow、TWAIN等软件接口。为方便OEM客户进行系统集成及开发,该相机可提供板***产品的定制和硬件加密功能。
UC36M工业相机晶体检测半导体缺陷检测UC36C(MGYY/MGNN)工业相机全型号及基本参数表 型号 | 有效 像素 | 色彩 | 分辨率 | 像素 尺寸 | 板面 尺寸 | 感光 元件 | 帧速率 | 帧存 | 触发 | I/O | 快门 | 相机 尺寸 | 响应范围 V/lux-sec (550nm) | 动态范围 |
UC36-M(MGYY) | 36 | 黑白 | 752*480 | 6.00 | 1/3 | CMOS | 60 | 有 | 有 | 有 | 全局 | 45*62*62 | 4.8 | >55dB linear; >80dB?100dB in HiDy mode |
UC36-M(MGNN) | 36 | 黑白 | 752*480 | 6.00 | 1/3 | CMOS | 25 | 无 | 有 | 有 | 全局 | 54*54*45 | 4.8 | >55dB linear; >80dB?100dB in HiDy mode |
UC36-C(MGYY) | 36 | 彩色 | 752*480 | 6.00 | 1/3 | CMOS | 60 | 有 | 有 | 有 | 全局 | 45*62*62 | 4.8 | >55dB linear; >80dB?100dB in HiDy mode |
UC36-C(MGNN) | 36 | 彩色 | 752*480 | 6.00 | 1/3 | CMOS | 25 | 无 | 有 | 有 | 全局 | 54*54*45 | 4.8 | >55dB linear; >80dB?100dB in HiDy mode |
UC36M工业相机晶体检测半导体缺陷检测UC36C(MGYY/MGNN)工业相机代表机型UC36-C/M MGYY部分主要参数如下
UC36M工业相机晶体检测半导体缺陷检测UC36C(MGYY/MGNN)工业相机产品特点
高速USB2.0接口,可达480Mb/s ;即插即用,无需外接电源
真实像素工业***CMOS逐行扫描图像传感器,无压缩、无插补
支持SKIP2 /SKIP4 /SKIP8 三种抽点模式,抽点后图像的帧速成倍提高
支持用户指定的AOI(感兴趣区域),裁剪后帧速提高
采集和预览分离,支持高速预览,高分辨率采集
所有模式及分辨率的切换图像的亮度***致
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