深圳市创鑫仪器有限公司：CX－HP821 LED光电性能快速测试系统 LED光电性能快速测试系统专用于测量 LED 的配光曲线（ LED 光强分布）、光束角、法向光强、正向电压、反向电流、反向击穿电压等光电参数，符合 CIE pub.No.127 条件 A 或 B 。 正是在满足 CIE 标准的基础上研制的 LED 光强空间分布测试系统，符合 CIE pub.No.127 条件 A 和条件 B 。本系统实现了 LED 的光、电性能的高精度测试，为 LED 生产厂商提供充分的 LED 光、电参数，使 LED 的研制和生产更加有效、可靠。

CX－HP821 LED光电性能快速测试系统

产品描述

      LED光电性能快速测试系统专用于测量 LED 的配光曲线（ LED 光强分布）、光束角、法向光强、正向电压、反向电流、反向击穿电压等光电参数，符合 CIE pub.No.127 条件 A 或 B 。 正是在满足 CIE 标准的基础上研制的 LED 光强空间分布测试系统，符合 CIE pub.No.127 条件 A 和条件 B 。本系统实现了 LED 的光、电性能的高精度测试，为 LED 生产厂商提供充分的 LED 光、电参数，使 LED 的研制和生产更加有效、可靠。

测试 LED 、大功率 LED 、食人鱼、贴片等发光体的光电性能；
内置 2000mA 数控恒流源，三***分档测量功能；
测量 LED 的电参数：反向漏电流，下身压降等；
测量 LED 的光参数，***维、二维空间光强角分布、光强、动态光强、零度光强、偏差角、扩散角、光通量等各种性能参数；
测量设定和控制完全电脑操作，软件自带数据库，；测量设定软件控制，自动生成Ecel各PDF文档，自动分析电流、电压、光通量、光强的相互曲线关系
软件自动分析 LED 电流与电压、光通量

LED光电性能快速测试系统性能参数：

正向电流 (I F ) ： 0.1mA ～ 800.0m A ；
 正向电压 (V F ) ： 0.01V ～ 20.00 V
反向电流 (I R ) ： 0.01 μ A~200 μ A ；
 反向电压 (V R ) ： 0.1 V～ 20.00 V
反向击穿电压：0.1 V～ 20.00 V
预热时间：0-9999ms
光强测量范围：0mcd-9.999cd
符合CIE-127-1997测试条件A。
配合积分球可实现光通量测量