半导体测试探针台
价 格:询价
产 地:更新时间:2021-01-18 19:08
品 牌:型 号:KUP007,EMP100C,EMP100B,EMP50S
状 态:正常点击量:2015
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半导体测试探针台:KUP007,EMP100C,EMP100B,EMP50S
特点:
* x y z 15 mm-19mm-19mm
*分辨率:5微米
*线性运动
磁铁底座/off-control(选项)
探索倾向
提示夹螺丝
同轴刀头固定螺钉
同轴端座管
三轴端固定螺钉
三轴端托管
(低泄漏电流<100fA)
射频臂(W/E或N/S)
8寸雷射修补变温(负)探针量测系统
高温高湿真空气体照光Bending 可靠度量系统:
低成本探针台:
4英寸探针台:
EMP100C EMP100B
C 型探针台 Model:EMP50S
测量解决方案系统
EMP100C 探针台
Semiconductor test probe station: KUP007, EMP100C, EMP100B, EMP50S
Features:
X, y, z 15 mm-19mm-19mm
* resolution :5 microns
* linear motion
Magnet base /off-control(option)
To explore the tendency
Cleat screw
Fixed screw with coaxial cutter head
Coaxial end seat tube
Triaxial end fixing screw
Triaxial end tube
(low leakage current <100fA)
Rf arm (W/E or N/S)