Sphere3000是***套全波长显微球面光学元件光谱分析仪,能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/绝对反射率。适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量。还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。
Sphere3000球面光学元件反射率显微检测仪-特点:
显微测定微小领域的反射率 物镜对焦于被测物微小区域(φ60μm)
CIE颜色测定 X Y色度图,x, y, L, a, b, 饱和度,主波长等
检测速度快 高性能探测器,能在几秒内实现重现性高的测定
消除背面反射光 无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率。
Sphere3000球面光学元件反射率显微检测仪-技术参数
型号 | Sphere-3000(I型) | Sphere-3000(II型) | Sphere-3000(III型) |
检测范围 | 380~800nm | 380~1000nm | 380~1100nm |
波长分辨率 | 1nm | 1nm | 1nm |
相对检测误差 | 1% | 1% | 0.5% |
测定方法 | 与标准物比较测定 |
被测物再现性 | ±0.1%以下 (2σ)(380nm~410nm) ±0.05%以下 (2σ)(410nm~800nm) | ±0.1%以下 (2σ)(380nm~410nm) ±0.05%以下 (2σ)(410nm~1000nm) | ±0.1%以下 (2σ)(380nm~410nm) ±0.05%以下 (2σ)(410nm~1100nm) |
单次测量时间 | 1s |
精度 | 0.3nm |
被测物N.A. | 0.12(使用10×对物镜时) 0.24(使用20×对物镜时) |
被测物尺寸 | 直径>1mm 厚度>1mm(使用10×对物镜时) 厚度>0.5mm(使用20×对物镜时) |
被测物测定范围 | 约φ60μm(使用10×对物镜时) 约φ30μm(使用20×对物镜时) |
设备重量 | 约15kg(光源内置) |
设备尺寸 | 300(W)×550(D)×570(H)mm |
使用环境 | 水平且无振动的场所 温度:23±5℃;湿度:60%以下、无结露, |
操作系统 | Windows XP, Windows Vista,Win7 |
软件 | 分光反射率、物体颜色、单层膜厚(有干涉条纹)和镀膜折射率(有干涉条纹)测定 |