JDSU进口SmartClass光回损测试仪ORL-55
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产 地：更新时间：2021-01-18 17:54
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产品特点
l 2个或3个波长上的高精度 ORL 测试 （单模 1310、1490、1550、1625 nm）
l 三合***仪表：回损测试仪／功率计／激光源
l TRIPLEtest 功能用于在三个波长上同时执行实时测试
l 自动调零功能（正在申请）用于提高测试精度
l 内部数据存贮以及PC机软件能够获得有效的文件与精确的报告
l 内置实时时钟
l 能够用于 FTTx
l 可视故障定位选件（635nm波长）。可用于光纤跟踪，定向及连续检查
l USB数据存储选件。通过U盘存储可扩大内存容量，快速方便的将存储数据导出
技术指标
| 项目 | 说明 |
| 回损测试模式 |
| 可选波长选项 | 1310/1550nm | 1310/1490/1550nm | 1310/1550/1625nm |
| 光谱带宽（RMS） | < 5 nm 显示范围0 dB 到 70 dB |
| 测量精度 | ±0.7dB |
| 分辨率 | 0.01dB |
| 激光源模式 |
| 可选波长选项 | 1310/1550nm | 1310/1490/1550nm | 1310/1550/1625nm |
| 光谱带宽（RMS） | ＜5nm |
| 输出功率 | -3dBm |
| 可调衰减 | 0到7dB |
| 稳定度 | ±0.02dB |
| 工作模式 | 连续波（CW），调制：270Hz、1kHz、2kHz，自动波长（λ） |
| 功率计模式 |
| 波长范围 | 1260~1650nm |
| 出厂校准波长 | 1310/1550/1625nm |
| 用户校准波长 | 1260到1650nm，以1nm间隔 |
| 光探测器 | 锗（GE） |
| 显示模式 | dB/dBm/W |
| 显示范围 | -70到+6dBm |
| 输入电平 | +6dBm |
| 分辨率 | 0.01dB，0.001W |
| 测量精度 | +0.4dB |
| 工作温度 | -10℃~+55℃ |
| 存贮与运输 | -40℃~+70℃ |
| 尺寸 | 95×60×195mm（W×H×D） |
| 重量 | 500g |
沪公网安备31011502016460号
