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产 地：更新时间：2021-01-18 16:45
品 牌：型 号：EM13
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EM13LD 系列是采用的测量技术，针对普通精度需求的研发和质量控制领域推出的多入射角激光椭偏仪。
EM13LD系列采用半导体激光器作为光源，可在单入射角度或多入射角度下对样品进行准确测量。可用于测量单层或多层纳米薄膜样品的膜层厚度、折射率n和消光系数k；也可用于同时测量块状材料的折射率n和消光系数k；亦可用于实时测量纳米薄膜动态生长中膜层的厚度、折射率n和消光系数k。多入射角度设计实现了纳米薄膜的绝对厚度测量。
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