MultiMode V SPM 是世界销量的扫描探针显微镜。它能够提供全部的原子力显微镜 (AFM) 和扫描隧道 (STM) 显微镜成像技术，可以测量样品的表面特性，如形貌、粘弹性、摩擦力、吸附力和磁/电场分布等等。样品和探针之间的简略机械设计确保了系统的的扫描速率和的准确性。 

该系统集成的全新 NanoScope V控制器确保了可靠、高速的数据采集能力，采集空间可达 5000×5000 的高象素密度。因而研究人员可以在之前的SPM技术中是无法实现的时间分辨内记录和分析针尖——样品相互作用。这种划时代的控制器设计允许同时采集和显示多达8个通道的图形和数据；支持强大的软件功能性和通用性；支持Easy－AFM这简约的图形化用户界面软件，尤其适合于初学者以及经常重复同***模式、同***类操作的用户。品平移台。

1.Multimode V产品手册 
2.TappingMode Imaging: Application ａnd Technology 
3.Lateral ａnd Chemical Force Microscopy:Mapping Surface Friction ａnd Adhesion 
4.TappingMode AFM Imaging in Fluids for the Study of Colloidal Particle Adsorption 
5.Phase Imaging: Beyond Topography 
6.原子力显微镜扭转共振成像模式（TR-Mode)介绍 
7.骨胶原纤维的大范围高分辨AFM形貌图分析 
8.探针悬臂弹性常数的使用建议 
9.单个细菌粘附的AFM形貌及力谱研究 
10.原子力显微镜探针弹性系数的热调制测定法 
11.如何用原子力显微镜探测DNA与蛋白质间的相互左右 
12.用原子力显微镜直接表征单个免疫复合物形成机理 
13.AFM与SEM：高分辨率表征手段上的互补 
14.液态环境中的轻敲模式

多达5120×5120象素的图像可以大大减少等待结果的时间，用户不必再费力地***遍遍地去改变图像观察和数据采集的位置，或者将***些低象素数的图像拼合在***起以获得大范围高分辨图像。 

使用该控制器，用户可以方便地通过前置面板上的BNC接口输入和输出绝大多数的信号。用户可以将来自外部信号源（如光电倍增管）输入控制器；可以将信号传递给锁相放大器；也可以获取和分析显微镜的数据或将其反馈给显微镜（如XYZ传感器信号、振幅、相位等）。这些功能可以被任何基于Microsoft组件对象模块（Component Object Model, COM）的外部软件所调用。 

EASY-AFM，重要的操作简化为了使整体的操作流程简单易行，NanoScope V控制器支持Easy-AFM?傻瓜式界面控制软件，提供***种易学易用的图形化用户界面。对于大多数样品，Easy-AFM均可以大大缩短样品测试所耗费的时间，这取决于改控制界面简化了从仪器初始化过程（包括探针、激光和检测器的调节）、探针逼近样品、扫描参数调节到获得TappingMode图像的全过程。.