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扫描探针显微镜（SPM）
抗干扰介质损耗测试仪
价 格：询价
产 地：更新时间：2021-01-18 15:12
品 牌：型 号：
状 态：正常点击量：1217
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本公司***报道:
抗干扰介质损耗测试仪 产品简介： 是***种的测量介质损耗(tgδ)和电容器容量(Cx)的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗，(tgδ)和电容器容量(Cx)它淘汰了 QS 高压电桥。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗干扰能力强、测试时间(在***内同类产品中速度*快)体积小、重量轻等特点。 产品参数 准确度： Cx: ±（读数×1%+1pF） tgδ: ±（读数×1%+0.00040） 抗干扰指标： 变频抗干扰，在200%干扰下仍能达到上述准确度 电容量范围： 内施高压： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV 外施高压： 3pF～0.5μF/10kV 60pF～10μF/0.5kV 分辨率： zui高0.001pF，4位有效数字 tgδ范围： 不限，分辨率0.001%，电容、电感、电阻三种试品自动识别。 试验电流范围：10μA～1A 内施高压：设定电压范围：0.5～10kV 电压分辨率：1V 精度：2% zui大输出电流：200mA 升降压方式：连续平滑调节 试验频率： 45、50、55、60、65Hz单频 45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自动双变频 频率精度：±0.01Hz 抗干扰介质损耗测试仪外施高压：正接线时zui大试验电流1A，工频或变频40-70Hz 反接线时zui大试验电流10kV/1A，工频或变频40-70Hz CVT自激法低压输出：输出电压3～50V，输出电流3～30A 测量时间：约36s，与测量方式有关 输入电源： 180V～270VAC，50Hz±1%，市电或发电机供电 计算机接口： 标准RS232接口 更多访问：http://www.ybzhan.cn/st112611/list_638937.html http://www.by-jiuyi.com/ParentList-638937.html
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