探针，AFM探针，原子力显微镜探针，Bruker探针

原子力AFM探针：

VEECO为您提供范围*广价格*优惠的AFM探针。这些探针的悬臂都具有不同的几何尺寸和机械性能，能满足各种不同的需求:

探针的工作模式：主要分为  扫描(接触)模式和轻敲模式

探针的结构：悬臂梁+针尖

探针针尖曲率半径Tip Radius：***般为10nm到几十nm。

制作工艺：半导体工艺制作

常见的探针类型：

（1）、导电探针（电学）：金刚石镀层针尖，性能比较稳定

（2）、压痕探针：金刚石探针针尖（分为套装和非套装的）

（3）、氮化硅探针：接触式 （分为普通的和锐化的）

（4）、磁性探针：应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备

（5）、电化学探针（STM）: 电学接触式和电学轻敲式

（6）、FIB大长径比探针：测半导体结构，专为测量深的沟槽（深孔）以及近似铅垂的侧面而设计生产的。

DNP-10
氮化硅探针
用于接触式或轻敲模式或力的测量。
非套装，适用于BioScope AFM 及 Dimension 系列SPM。
每个基片有4个悬臂，弹性系数为0.06 - 0.58 N/m，共振频率为18-65 KHz
包装数量：10根/盒
针尖参数
几何：各向异性
针尖高度 (h): 2.5 - 8.0µm
正面角(FA): 15 ± 2.5°
背面角(BA): 25 ± 2.5°
侧面角 (SA): 17.5 ± 2.5°
针尖曲率半径(Nom): 20nm
针尖曲率半径(Max): 60nm
针尖缩进 (TSB)(Nom): 4µm
针尖缩进范围 (TSB)(RNG): 0 - 7µm