仪器简介：

对材料特性的全面认识是理解材料性能的基本前提。材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷都对材料的性能产生影响。透射电子显微镜已经被证实是在小到埃***尺寸研究各种普通材料和材料的非常有效的技术。它能够产生很多的信号, 这些信号携带了不同类型的有用信息。Tecnai G² 20经过特殊设计可以快速有效地采集和处理这些信号。将高分辨图像、明场/暗场图像、STEM图像、电子衍射和详细的微观分析有机的结合起来, 使Tecnai G² 20成为材料分析研究的重要仪器。
Tecnai G² 20可以根据不同用户的配置要求供货。标准型仪器提供了已被证实的多项技术: 既可得到高分辨图像又保持高倾角(40°)的S-TWIN物镜, 提供样品精确控制和机械稳定性优异的CompuStage样品台。Tecnai G² 20可以安装完全集成式设计的数字化的STEM(透射扫描附件)、EDX(能谱仪)和能量过滤或PEELS(能量损失谱)。这些技术可结合起来完成频谱分布和频谱图像的分析工作。Tecnai G² 20为材料分析研究用户提供了稳定性、操作方便性和高性能的优异组合。无论是在常规分析, 还是亚微米研究, Tecnai G² 20都能够满足日益增多的样品数量。

为满足结构生物学研究的需要，FEI公司还设计制造了配置TWIN物镜和Cryo冷冻样品台的专门系统: Tecnai G2 20 TWIN
其主要技术特点：
- TWIN物镜系统, 点分辨率 0.27nm
- 样品倾角 +/- 70°
- Cryo液氮冷冻样品台及冷冻转移设备
- 全自动化的数据采集和数据处理系统

技术参数：

1.LaB₆灯丝或钨灯丝
2.点分辨率
　　U-TWIN 0.19nm
　　S-TWIN 0.24nm ; TWIN 0.27nm
3.加速电压 20-200kV,连续可调
4.放大倍数 25x - 1100kx
5.样品倾角: S-TWIN +/- 40° ; TWIN +/- 70°
6.计算机控制的全数字化电镜,基于Windows XP的用户界面

主要特点：

1.***数字化系统
2.FEI技术S-TWIN/U-TWIN物镜
3.CompuStage样品台提供高精度的样品位置控制
4.全连锁的洁净的真空系统
5.可选完全集成化的各种附件, 如能谱仪、CCD相机等