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扫描电子显微镜（SEM）
大样品仓双束电镜 (FIB-SEM)
价 格：询价
产 地：更新时间：2021-01-18 15:06
品 牌：型 号：TESCAN FERA3(XMU/XMH)
状 态：正常点击量：2860
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TESCAN超高速聚焦离子束系统FERA3
世界***个完全集成式Xe等离子源聚焦离子束扫描电子显微镜－－－－FERA3，提供了超高离子束束流（束流为2μA），其溅射速度比Ga离子源高50多倍。对于目前浪费时间或不可能进行的需要刻蚀的材料，FERA3型仪器是***个不错的选择。
新***代的聚焦离子束扫描电子显微镜为用户提供了*新的技术优势，例如：改进的高性能电子设备使图像采集得速度更快，带有静态和动态图像扭曲补偿技术的超高速扫描系统，内置的编程软件等。
FERA3的设计适应各种各样的SEM应用与当今研究和产业的需求，其高分辨率、高电流和强大的软件使TESCAN FIB-SEM成为***的分析工具。
现代电子光路
高性能离子光路
维修简单
现在保持电镜处在***的状态很简单，只需要很短的停机时间。每个细节设计得很仔细，使得仪器的效率化，操作*简化。
自动操作
电镜除了可以自动化设置外，还可进行聚焦、调节对比度/亮度等自动操作。除此之外，电镜还有样品台自动导航与自动分析 程序，能明显减少操作员的操作时间。通过内置脚本语言（Python）可进入软件的大多数功能，包括显微镜控制、样品台控制、图像采集、处理与分析等。通过脚本语言用户还可以自定义自动操作程序。
用户界面友好的软件与软件工具
TESCAN FERA3氙等离子超高速双束FIB系统（XM）
分析潜力
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高亮度肖特基发射可获得高分辨率，高电流和低噪声的图像
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选配的In-Beam二次电子探头可获取超高分辨率图像
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三透镜大视野观察（Wide Field Optics™）设计提供了多种工作模式和显示模式，体现了TESCAN特有可优化电子束光阑的中间镜设计
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结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪（In-Flight Beam Tracing™）可模拟和进行束斑优化
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成像速度快
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低电压下的电子束减速模式（Beam Deceleration Technology – BDT）可获取高分辨率图像（选配）
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In-Beam背散射电子探头，用于在小工作距离下得BSE图像（选配），甚至适合铁磁性样品
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全计算机化优中心电动载台设计优化了样品操控
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完美的几何设计更适合安装能谱仪（EDX）、波谱仪（WDX）、背散射电子衍射仪（EBSD）
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由于使用了强力的涡沦分子泵和干式前置真空泵，因而可以很快达到电镜的工作真空。电子枪的真空由离子泵维持。
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自动的电子光路设置和合轴
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网络操作和内置的远程控制/诊断软件
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3维电子束技术提供实时立体图像
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低真空模式下样品室真空可达到500Pa用于观测不导电样品
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独特的离子差异泵（2个离子泵）使得离子散射效应超低
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聚焦离子束镜筒内有马达驱动高重复性光阑转换器
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聚焦离子束的标配包括了电子束遮没装置和法拉第筒
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高束流下超高的铣削速度和卓越的性能
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FIB切割、信号采集、3维重构（断层摄影术），3D EBSD、3D EBIC与集成3维可视化
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成熟的SEM/FIB/GIS操作软件，图像采集、存档、处理和分析功能
FERA3配置
FERA3 XMH
是***款完全由计算机控制的Xe等离子聚焦离子束（i-FIB）场发射扫描电子显微镜，可选配气体注入系统(GIS)，在真空模式下工作。
FERA3 XMU
是***款完全由计算机控制的Xe等离子聚焦离子束（i-FIB）场发射扫描电子显微镜，可选配气体注入系统(GIS)，可在高真空和低真空模式下工作。
软件（标配）：
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测量
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图象处理
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3维扫描
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硬度测量
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多图像校准
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对象区域
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自动关机时间
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公差
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编程软件
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定位
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投影面积
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EasySEMTM
配件：
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二次电子探头
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背散射电子探头
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In-Beam SE
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In-Beam BSE
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探针电流测量
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压差式防碰撞报警装置
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可观察样品室内部的红外线摄像头
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TOP-SIMS
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二次离子探头
等，各种配件可供选择
沪公网安备31011502016460号
