表面形貌和成分信息同时展现

背散射电子的产率、出射角度与样品成份及表面形貌相关。Phenom（飞纳）采用4分割半导体背散射电子探测器，为您提供两种成像模式，模式之间可迅速切换：

成份模式：同时给出样品表面形貌与成份信息，不同元素可由其灰度对比度的不同加以分辨；

形貌模式：去除成份信息，样品表面凹凸起伏等微观结构更加明晰，适用于表面粗糙度和缺陷分析；

Phenom（飞纳）样品杯、低真空设计、的真空封锁技术，装入样品后30秒内即可得到高质量图像，耗时仅为传统电镜的1/10左右。

直接观看绝缘体，无需喷金

Phenom（飞纳）采用低真空技术，出射电子与空气分子碰撞产生正离子，正离子与样品表面累积的电子中和，有效抑制荷电效应的产生，直接观测各种不导电样品。

利用降低荷电效应样品杯，更可将开始荷电的放大倍数提高8倍左右，而且不会影响灯丝寿命，下图头发示例：

操作简便，全程导航

自动/手动聚焦

自动/手动亮度

自动/手动对比度

自动灯丝居中调节

自动马达样品台

光学/电子样品导航

Phenom（飞纳）操作界面。通过点击右侧图标可以轻松完成图像缩放、聚焦、亮度对比度调节、旋转等操作。界面右侧显示光学导航和低倍SEM导航窗口，方便用户在不同样品、不同区域间进行切换。

环境适应性高，完全防震

Phenom（飞纳）可以放置在几乎所有的室内环境当中，无需超净间。采用灯丝、探测器、样品台相对***体化的设计，震动不会引起三者间的相对运动，使Phenom（飞纳）成像不受震动影响，可放置在较高楼层。

互联网远程检测

Phenom（飞纳）拥有远程检测功能，通过网络，专业工程师可随时为您远程检测系统、答疑解难，为您提供全方位的保护，让您的Phenom（飞纳）随时处于*佳工作状态。