扫描电化学显微系统（SECM）

交流扫描电化学显微镜系统（ac-SECM）

间歇接触扫描电化学显微镜系统（ic-SECM）

微区电化学阻抗测试系统(LEIS)

扫描振动点击测试系统（SVET）

电解液微滴扫描系统（SDS）

交流电解液微滴扫描系统（ac-SDS）

扫描开尔文探针测试系统（SKP）

非触式微区形貌测试系统（OSP）

出色的性能 

快速***的闭环定位系统为电化学扫描探针纳米***研究的需求而特别设计。结合Uniscan 独特的混合型32-bit DAC技术，用户可以选择合适实验研究的zui佳配置

和灵活的工作平台

系统可提供9种探针技术，使得M470成为全球zui灵活的电化学扫描滩镇工作平台。

全面的附件

7种模块可选，3种不同电解池，各式探针，长距显微镜以及后处理数据分析软件。

M470微区扫描电化学工作站新产品特征

SECM自动处理曲线

SECM用户自定义处理曲线步长变化

高分辨率读取

手动或自动调节相位

M470同时具备如下特点：

倾斜校正

X或Y曲线相减（5阶多项式）

2D或3D快速傅里叶变化

实验，探针移动和区域绘图的自动排序

图形实验测序引擎（GESE）

支持多区域扫描

所有实验多个数据视图

峰值分析

M470微区扫描电化学工作站是由Uniscan仪器开发的第四代扫描探针系统，具有更高规格和更多探针技术。

M470技术参数

工作站（所有技术）

扫描范围（x,y,z）           大于105nm

扫描驱动分辨率              zui高0.1nm

闭环定位                    线性零滞后编码器，直接实时读出x,z和y位移

轴分辨率（x,y,z）            20nm

zui大扫描速度                 12.5mm/s

测量分辨率                   32-bit解码器@高达40MHz

压电（ic-和ac-扫描探针技术）

振动范围                20nm~ 2μm峰与峰之间1nm增量

zui小振动分辨率          0.12nm(16-bit DAC,4μm)

压电晶体伸展            100μm

定位分辨率              0.09nm(20-bit DAC ,100μm)

机电

扫描前端                500×420×675mm(H×W×D)

扫描控制单元            275×450×400mm(H×W×D)

功率                    250W