扫描电化学显微系统(SECM)
交流扫描电化学显微镜系统(ac-SECM)
间歇接触扫描电化学显微镜系统(ic-SECM)
微区电化学阻抗测试系统(LEIS)
扫描振动点击测试系统(SVET)
电解液微滴扫描系统(SDS)
交流电解液微滴扫描系统(ac-SDS)
扫描开尔文探针测试系统(SKP)
非触式微区形貌测试系统(OSP)
出色的性能
快速***的闭环定位系统为电化学扫描探针纳米***研究的需求而特别设计。结合Uniscan 独特的混合型32-bit DAC技术,用户可以选择合适实验研究的zui佳配置
和灵活的工作平台
系统可提供9种探针技术,使得M470成为全球zui灵活的电化学扫描滩镇工作平台。
全面的附件
7种模块可选,3种不同电解池,各式探针,长距显微镜以及后处理数据分析软件。
M470微区扫描电化学工作站新产品特征
SECM自动处理曲线
SECM用户自定义处理曲线步长变化
高分辨率读取
手动或自动调节相位
M470同时具备如下特点:
倾斜校正
X或Y曲线相减(5阶多项式)
2D或3D快速傅里叶变化
实验,探针移动和区域绘图的自动排序
图形实验测序引擎(GESE)
支持多区域扫描
所有实验多个数据视图
峰值分析
M470微区扫描电化学工作站是由Uniscan仪器开发的第四代扫描探针系统,具有更高规格和更多探针技术。
M470技术参数
工作站(所有技术)
扫描范围(x,y,z) 大于105nm
扫描驱动分辨率 zui高0.1nm
闭环定位 线性零滞后编码器,直接实时读出x,z和y位移
轴分辨率(x,y,z) 20nm
zui大扫描速度 12.5mm/s
测量分辨率 32-bit解码器@高达40MHz
压电(ic-和ac-扫描探针技术)
振动范围 20nm~ 2μm峰与峰之间1nm增量
zui小振动分辨率 0.12nm(16-bit DAC,4μm)
压电晶体伸展 100μm
定位分辨率 0.09nm(20-bit DAC ,100μm)
机电
扫描前端 500×420×675mm(H×W×D)
扫描控制单元 275×450×400mm(H×W×D)
功率 250W