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扫描电子显微镜（SEM）
FEI Apreo 场发射扫描电子显微镜
价 格：询价
产 地：更新时间：2021-01-18 15:01
品 牌：型 号：Apreo
状 态：正常点击量：1739
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Apreo 复合透镜设计结合了静电和磁浸没技术，可产生前所未有的高分辨率和信号选择。这使得 Apreo 成为研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台，并且不会降低磁性样品性能。
Apreo 受益于独特的透镜内背散射探测，这种探测提供卓越的材料对比度，即使在倾斜、工作距离很短或用于敏感样品时也不例外。新型复合透镜通过能量过滤进***步提高了对比度并增加了用于绝缘样品成像的电荷过滤。可选低真空模式，现在的zui大样品仓压力为 500 Pa，可以对要求zui严苛的绝缘体进行成像。
通过这些优势（包括复合末***透镜、高***探测和灵活样品处理），Apreo 可提供出色的性能和多功能性，帮助您应对未来的研究难题。
沪公网安备31011502016460号
