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产 地:更新时间:2021-01-18 14:30
品 牌:型 号:VK-X100/X200
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产品特性 解决问题 激光扫描显微系统可以解决所有的课题 关于本产品的详细内容,请使用右上方的图标下载目录后确认。 使用激光显微系统则可全部简单地实现 光学显微镜 提升倍率后,难以对焦,分辨率不足。 SEM 前处理或样本尺寸等的准备烦琐,仅能以黑白色进行观察。 粗糙度仪 不能够实现***边放大观察,***边对工件部位实施非破坏性的凹凸测量。 有限的分辨率和放大倍数 光盘坑 (6000 倍) 景深浅 刀尖 (1000 倍) 不支持可追溯性 高分辨率, 放大24000 倍 光盘坑(6000 倍) 完全聚焦的清晰图像 刀尖(1000 倍) 符合溯源性要求 使用 VK 系列获得的测量结果是高度可靠的测量数据,并且符合******标准溯源性。
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