三目体视显微镜XTL-AT 颗粒粒径统计分析显微镜立体显微镜
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产 地：更新时间：2021-01-18 13:16
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三目体视显微镜XTL-AT 颗粒粒径统计分析显微镜立体显微镜
配置了高清晰度的体视显微镜、JVC摄像头和专业的粒度分析软件UV-G。可对大的固体粉末、建筑沙石、颜料涂层及各类反光材料进行定量分析。分析范围：10-1000μm。
UV-G显微粒度分析系统是***套显微颗粒图像处理及测量分析的应用软件。凡是与颗粒图像形态学有关的各种检测与分析：例如粉末及微颗粒分析，农业种子形态分析各种微小异性几何尺寸测量，化学工业中各种反应物粒子的形态分析等，都可以利用UV-G来完成。
| 技术参数 |
| ***、系统配置： | 1、 | 三目体视显微镜XTL-AT | | 2、 | JVC摄像头 | | 3、 | 摄像适配器MCL | | 4、 | 图像采集卡SLG-V110 | | 5、 | 显微粒度分析软件UV-G | | 6、 | 台式机或笔记本电脑、打印机（选购）、XP系统、硬盘60G、内存1G、独立显卡512M以上、USB2.0接口 | 二、显微镜参数 | 序号 | 名称 | 技术参数 | | 1 | 目镜倍数 | 10X高眼点广角平场 视场直径ф20mm | | 2 | 物镜倍数 | 0.7X-4.5X 物镜变倍比1：6.4 | | 3 | 三目观察头 | 瞳距55-75mm 视度调节±5屈光度 45°倾斜 360°旋转 | | 4 | 视场范围 | 32 mm -4.4mm | | 5 | 总放大倍数 | 7X-45X（选购0.5X、2X大物镜，20X目镜可达3.5X-180X） | | 6 | 工作距离 | 工作距离100mm | | 7 | 调节范围 | 升降调节范围45mm 立杆调节范围140mm 被观察物高度100mm | | 8 | 玻璃载物台 | 玻璃载物工作台直径ф80mm | | 9 | 光源 | 上下LED光源，亮度可调 220V | | 10 | | 净重：4.5kg 毛重：7.2kg | | 11 | 仪器尺寸 | 仪器尺寸24X28X40（cm） 包装尺寸 28X40X44（cm） | |
| 产品成套性 |
| 1、产品的成套件： | 序号 | 名称 | 主要技术参数 | 单位 | 数量 | | 1 | 显微镜主体 | | 台 | 1 | | 2 | 三目镜筒 | | 套 | 1 | | 3 | 平场目镜 | 10X | 对 | 1 | | 4 | JVC摄像头 | | 套 | 1 | | 5 | 摄像适配器 | | 个 | 1 | | 6 | 图像采集卡 | | 套 | 1 | | 7 | 显微粒度分析软件UV-G | | 套 | 1 | | 8 | 产品说明书 | | 本 | 1 | | 9 | 产品装箱单 | | 份 | 1 | | 10 | 产品合格证 | | 份 | 1 | | 11 | 产品保修卡 | | 份 | 1 | 2、选购件： | 序号 | 类别 | 名称 | | 1 | 摄像系统 | 数码相机接口+佳能单反数码相机 | | 300万、500万数字摄像头 | | 2 | 物镜 | 0.5X、2X | | 3 | 其他装置 | 环形荧光光源、环形LED光源、双支冷光源 | |
沪公网安备31011502016460号
