Leitz ORTHOLUX-Ⅱ POL MK透反射偏光显微镜

仪器的用途：

ORTHOLUX-Ⅱ POL MK透反射两用偏光显微镜是地质、矿产、冶金等部门和相关高等院校*常用的专业实验仪器。用于不透明物明或半透明物体，可以同时采用透射光和反射光。

仪器特点：

透反射偏光显微镜ORTHOLUX-Ⅱ POL MK，随着光学技术的不断进步，作为光学仪器的偏光显微镜，其应用范围也越来越广阔，许多行业，如化工的化学纤维，半导体工业以及药品检验等等，也广泛地使用偏光显微镜。ORTHOLUX-Ⅱ POL MK透反偏光显微镜就是非常适用的产品，可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子等附件，是***组具有较完备功能和良好品质的新型产品。本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。

技术参数：

系统简介

偏光显微镜系统是将精锐的光学显微镜技术、的光电转换技术、尖端的计算机图像处理技术完美地结合在***起而开发研制成功的***项高科技产品。可以在计算机显示器上很方便地观察偏光图像，从而对偏光图谱进行 分析等对图片进行输出、打印。

系统组成

Leitz ORTHOLUX-Ⅱ POL MK图像型透反射偏光显微镜：

1、Leitz ORTHOLUX-Ⅱ POL MK透反射偏光显微镜  

2、适配镜 

3、300万像素数码摄像器（COMS）