膜厚仪用X射线正比计数器
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产 地:更新时间:2021-05-10 10:24
品 牌:其他型 号:lnd45432
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产品参数
膜厚仪用X射线正比计数器
通用技术条件
气体压力(乇)800
工作温度范围°C - 40至75
长度(英寸/毫米)10.05 / 255.3
有效直径(英寸/毫米)1.88 / 47.8
路径长度(英寸/毫米)1.88 / 47.8
有效长度(英寸/毫米)7.7 / 195.6
连接器MHV
直径(英寸/毫米)2 / 50.8
阴极材料铝
充氙
窗规格
铍材料
面密度(毫克/厘米²)23
厚度(英寸/毫米)0.005/0.127
尺寸(英寸/毫米)1 x 3.25 / 25.4 x 82.6
电气规格
推*荐工作电压(伏特)1950
工作电压范围(伏)1850-2100
典型的分辨率(FWHM CD109)10
电容(PF)3
其它边窗正比计数器型号还有 :lnd451 lnd452 LND453 LND455 LND456 LND4511 LND4515 LND4523 LND4534 LND4543 LND4546 LND4548 LND4549 LND4561 LND4562 LND4565 LND4566 LND45114 LND45124 LND45125 LND45128 LND45129 LND45140 LND45144 LND45145 LND45152 LND45321 LND45419 LND45431 LND45432 LND45472 LND45493 LND45495 LND45614 LND45616 LND45620 LND45621 LND45641 LND45669 LND45670 LND45685
LND45686 LND45693 LND45694 LND45697 LND454117 LND456132.