表面污染仪、辐射检*测仪

表面污染仪、辐射检*测仪

技术参数
1．探测器：大面积半导体探测器与高灵敏度GM探测器；
2．测量显示范围：α计数率：1～2000cps；β计数率：1～5000cps。

3．环境γ剂量H*(10)测量显示范围：0.1mGy/h~12mGy/h；
4. 探头保护盖：储运时保护探头窗膜。因加有相应的屏蔽材料，可有效阻挡αβ射线，对γ测量有良好的能量响应补偿作用。
5. α本底：＜5cpm;
6. β本底：≤400cpm（外环境γ辐射<0.25mGy/h）;
7. α探测效率：≥35%（241Am或239Pu ，2π方向）;
8. β探测效率：≥60%（204Tl或90Sr-90Y ， 2π方向， 150cm2源）； ≥40%（14C， 2π方向， 150cm2源）;
9.  相对固有误差：≤±20%;
10. 定时：有1s、10s、60s可设置;
11. 工作环境特性：温度-10℃～45℃;
12. 重量：1.6kg; 尺寸：（长）22.5cm×（宽）11.8 cm×（高）16.3cm（包括手柄）。

表面污染仪、辐射检*测仪

主要用于测量物体表面的αβ放射性表面污染水平，也可测量γ辐射剂量率，对低水平辐射非*常灵敏。对污染的墙壁、桌面、地板等αβ污染具有良好的测量特性。适用于核能利用的各厂矿、车间、实验室、核设施退役、核电站、核军工以及核防护部门等。可作为应核急测量箱配套设备。具有大面积、高灵敏、多功能 、易操作的特点。仪器测量读数由带背光点阵液晶显示器给出，对α和β、γ测量可切换显示，测量时由手柄按键操作，并设置手动清零计数和自动清零计数两种工作方式，方便使用，易于控制。
具有超阈值报警、超量程报警、电池欠压报警等功能。