LA-S植物年轮分析系统，至少具备以下功能：

1.植物年轮测量分析：

1）可自动判读年轮数

2）各年轮平均宽度

3）早材及晚材宽度

4）各年轮切向角度和面积

5）可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界，以及识别出很窄的树轮

6）可交互删除伪年轮、插入断年轮，可自动生成***际上通行的分析年表。分析获得的测量数据具备进***步做交叉定年、数据分析处理能力

7）具有年轮图线数据【暂存】【加载】特性，以便日后不断地分析比对。具有【精细】分析的“软件体视镜”特性。有路径端点【吸附】定位特性，对不满意的分析路径还可断开、删除、增加与编辑，以及可将分析结果图线保存。图线上调整角度具有跟随特性，画路径的时候可【取消】（右键菜单点【取消】或直接按【Del删除】键）

8）可直接分析***大达到2万万像素（2亿像素）的超高精度扫描的超大幅面年轮图像（能分析在3200dpi分辨率下，成像分析430mm×30mm区域的年轮灰度图像（A3扫描仪），精度远高于目前常用的1600dpi分辨率）。具有对年轮宽度<0.2mm的极精细年轮的自动分析能力。

9) 可保存或读取TIFF、BMP、PNG、JPEG标准格式的图像

2. 人工辅助修正：图像可放大缩小和局部观察，可实现鼠标区域选择统计。

3．自动杂质剔除：根据尺寸等方面的区别，进行自动杂质剔除。

4．辅助测量功能：

尺寸标定：自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正；

长度测量：具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动精确测量；

5．数据报表导出：分析结果能导出到Excel表，以便存档和统计。还可输出分析标记图，以便发表论文用。

标配光学分辨率4800×9600、A4加长的Microtek ScanMaker i800双光源彩色扫描仪，最大分析测量面积：反射稿为A4加长幅面（35.6 cm×21.6 cm），扫描根面积30 cm×20 cm，可分辨的最小尺寸0.008 ×0.008 mm。植物图像分析测量精度（由扫描仪决定，可软件部分校正）：X向≤±0.5 %，Y向≤±0.25%；长度测量重现性误差<±0.25%；面积测量重现性误差<±0.25%；台间测量差异<±0.25%。测量总时间：30~60秒。用户需另配计算机。

若需大幅面分析，请选配：光学分辨率1600×3200dpi、A3的Microtek Phantom 9800XL扫描仪