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SC-E种子大米自动数粒分析仪系统

价  格:询价

产  地:浙江更新时间:2020-10-26 16:46

品  牌:万深型  号:SC-E

状  态:正常点击量:1145

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SC-E种子大米自动数粒分析仪系统可在实验室或野外用于检测分析种子大米形状和外观品质。自动评价各类种子、麦类、大米(籼米、粳米、籼糯米、粳糯米,特种米、有机米等),及小米、大小麦、豆类、玉米、芝麻、瓜果、非常细小的花种子,蔬菜种子等。***次成像就可分析出:粒形(直径、长度、宽度、长宽比、面积)、整精米数量、整精米率、大米透明度、垩白率、垩白度、千粒重、碎米率、不完善率(黄粒米、未成熟粒、杂质),及快速***的各类考种计数分析,并兼做表面光滑的昆虫计数或虫卵计数(如:米象、蚜虫、蚕卵、鱼籽等)。不用耗时的人为摆放,与***标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米相对应,能检测各项指标的重量比和粒数比。广泛适用于种子、品种、粮食质量监管和品种选育相关部门,提高工作效率。



产品参数

SC-E种子大米自动数粒分析仪系统标配光学分辨率4800×9600、A4加长的Microtek ScanMaker i800双光源彩色扫描仪(反射稿成像为A4加长幅面356 mm×216 mm,负片成像为203×305 mm,可分辨最小尺寸0.008×0.008 mm)。尺寸测量精度:X向≤±0.5%,Y向≤±0.25%。SC-I型标配300万像素拍照箱(立体背光成像,其有效分析直径100-120mm范围)。


产品介绍

SC-E种子大米自动数粒分析仪系统:

1、种子大米形态分析:自动分析计算每粒种子面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径(长度测量误差≤±0.1mm,长宽比测量误差≤±0.05,重现性误差≤±0.02mm)。

2、可自动形成批操作向导,***键完成自动计数分析。可测种粒直径0.3~15mm,自动测量精度≥99%,交互修正后准确率达***,分析速度20-300粒种子/秒。每次能成像30克稻种等颗粒,16分钟能全自动完成106批样品(约12万粒种子)的考种,并存放到EXCEL表内。稻种等的考种计数正确率,经极快速地可视化验证后,可达***正确。计数分析性能在***内外可比较的公开PK中***。

3、可用“***键”向导完成大米的粒形检测、整精米率检测、垩白粒率和垩白度等的检测。整精米率(测量误差≤±1.0%,重现性误差≤±0.25%)、垩白度/率(测量误差≤±1.0%,重现性误差≤±0.5%)、碎米率统计分析(测量误差≤±1.0%,重现性误差≤±0.25%)。与***标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米相对应,能检测各项指标的重量比和粒数比。

4、区域选择分析:可选择圆形、矩形、扇形、任意圈定区域进行统计。

5、鼠标点击统计:快速标记、添加/减少目标数量,适合培养皿边缘种子的计数。

6、形状识别统计:根据种子的形状特性筛选,分别计数分析特定形状的种子。

7、人工辅助修正:图像可放大缩小和局部观察,具有区域裁剪和橡皮擦功能。可监视修正种子分析的精度。可裁剪或擦除掉污染目标区,删除任意区域内的误选种子。

8、大米种子粘连分割:自动分割相互粘连的大米种子,可由用户选择分割或不分割。

9、根据尺寸等方面的区别,自动剔除微小杂质。输入样品重后可自动算出千粒重。

10、数据库功能:全部分析结果以数据库存储,可保留原图/结果图;可按日期、编号等自动查询;统计分析结果能导出至Excel表、Word文档、PDF文档,并自动汇总报表。

11、标配光学分辨率4800×9600、A4加长的Microtek ScanMaker i800双光源彩色扫描仪(反射稿成像为A4加长幅面356 mm×216 mm,负片成像为203×305 mm,可分辨***小尺寸0.008×0.008 mm)。尺寸测量精度:X向≤±0.5%,Y向≤±0.25%。SC-I型标配300万像素拍照箱(立体背光成像,其有效分析直径100-120mm范围)。




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