SC-E种子大米自动数粒分析仪系统:
1、种子大米形态分析:自动分析计算每粒种子面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径(长度测量误差≤±0.1mm,长宽比测量误差≤±0.05,重现性误差≤±0.02mm)。
2、可自动形成批操作向导,***键完成自动计数分析。可测种粒直径0.3~15mm,自动测量精度≥99%,交互修正后准确率达***,分析速度20-300粒种子/秒。每次能成像30克稻种等颗粒,16分钟能全自动完成106批样品(约12万粒种子)的考种,并存放到EXCEL表内。稻种等的考种计数正确率,经极快速地可视化验证后,可达***正确。计数分析性能在***内外可比较的公开PK中***。
3、可用“***键”向导完成大米的粒形检测、整精米率检测、垩白粒率和垩白度等的检测。整精米率(测量误差≤±1.0%,重现性误差≤±0.25%)、垩白度/率(测量误差≤±1.0%,重现性误差≤±0.5%)、碎米率统计分析(测量误差≤±1.0%,重现性误差≤±0.25%)。与***标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米相对应,能检测各项指标的重量比和粒数比。
4、区域选择分析:可选择圆形、矩形、扇形、任意圈定区域进行统计。
5、鼠标点击统计:快速标记、添加/减少目标数量,适合培养皿边缘种子的计数。
6、形状识别统计:根据种子的形状特性筛选,分别计数分析特定形状的种子。
7、人工辅助修正:图像可放大缩小和局部观察,具有区域裁剪和橡皮擦功能。可监视修正种子分析的精度。可裁剪或擦除掉污染目标区,删除任意区域内的误选种子。
8、大米种子粘连分割:自动分割相互粘连的大米种子,可由用户选择分割或不分割。
9、根据尺寸等方面的区别,自动剔除微小杂质。输入样品重后可自动算出千粒重。
10、数据库功能:全部分析结果以数据库存储,可保留原图/结果图;可按日期、编号等自动查询;统计分析结果能导出至Excel表、Word文档、PDF文档,并自动汇总报表。
11、标配光学分辨率4800×9600、A4加长的Microtek ScanMaker i800双光源彩色扫描仪(反射稿成像为A4加长幅面356 mm×216 mm,负片成像为203×305 mm,可分辨***小尺寸0.008×0.008 mm)。尺寸测量精度:X向≤±0.5%,Y向≤±0.25%。SC-I型标配300万像素拍照箱(立体背光成像,其有效分析直径100-120mm范围)。