日本Olympus镜片反射率测定仪USPM-RUⅢ
价 格：询价
产 地：日本更新时间：2020-10-29 14:46
品 牌：奥林巴斯型 号：USPM-RUⅢ
状 态：正常点击量：1736
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概要
ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ是在原ＵＳＰＭ－ＲＵ仪器上开发出的换代产品，是镜片反射率测定仪的新机型。薄镜片也不受背面反射光的影响，能实现高速、高精度的分光测定。
特征
消除背面反射光
采用特殊光学系，消除背面反射光。不必进行背面的防反射处理，可正确测定表面的反射率。
可测定微小领域的反射率
用对物镜对焦于被测面的微小区域(φ60μm)，可测定镜片曲面及镀膜层脱落。
测定时间短
使用Flat Field Grating(平面光栅)和线传感器的高速分光测定，可迅速实现再现性很高的测定。
ＸＹ色度图、L*a*b*测定可能
以分光测定法为基准，从分光反射率情况可测定物体颜色。
Hard Coat(高强度镀膜)膜厚测定可能
用干涉光分光法，可以不接触、不破坏地测定被测物的膜厚(单层膜)。
主要用途
各种透镜（眼镜透镜、光读取头镜片等）
反射镜、棱镜以及其他镀膜部品等的分光反射率、膜厚测定（单层膜）
与原产品的主要区别
采用全新的ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ专用框架及设计，提高了操作性能。
受台Ｚ方向的移动范围从35mm(原产品)扩大到了85mm。
电源规格可对应AC100V以及AC220V。 (请您在下订单时注明电源规格。)
优化了软件的功能。(可显示10次测定的功能等)
XY受台移动方向增加了比例尺。
更换卤灯时不需调整灯的位置。
ＰＣ与Interface采用了ＵＳＢ式连接。
产品参数
| 测定波长 | 380nm～780nm |
| 测定方法 | 与参照试料的比较测定 |
| 被测物N.A. | 0.12(使用10×对物镜时)
0.24(使用20×对物镜时)
※与对物镜的N.A不同 |
| 被测物W.D. | 10.1mm(使用10×对物镜时)
3.1mm(使用20×对物镜时) |
| 被测物的曲率半径 | -1R～-∞、+1R～∞ |
| 被测物的测定范围 | 约φ60μm(使用10×对物镜时)
约φ30μm(使用20×对物镜时) |
| 被测物再现性 | ±0.1%以下(2σ)（380nm～410nm测定时）
±0.01%以下(2σ)(410nm～700nm测定时) |
| 表示精度 | 1nm |
| 测定时间 | 数秒～十数秒(因取样时间各异） |
| 光源规格 | 卤灯 12V100W |
| 装置重量 | 本体：约20kg(电脑、打印机除外)
光源用电源：约3kg、控制器：约8kg |
| 装置尺寸 | 本体：300(W)×550(D)×570(H)mm
光源用电源：150(W)×250(D)×140(H)mm
控制器盒：220(W)×250(D)×140(H)mm |
| 电源规格 | 光源用电源：100V (2.8A)/220V AC
控制器盒：100V(0.2A)/220V AC |
| 使用环境 | 水平且无振动的场所
温度：23±5℃
湿度：60％以下、无结露 |
| 软件 | ■测定参数设定
■分光反射率测定
设定参考值(固定值、分散式、可选择文档数据) 取样时间设定 判定是否合格 波长方向刻度
■物体颜色测定
ＸＹ色度图、L*a*b*色度图 标准光源设定(A、B、C、D65) 视野设定(2°视野、10°视野)
■膜厚(单层膜)测定
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| *作为特别订货，可对应测定波长为440nm～840nm。 |
本装置不保证为Traceability体系中的绝对精度。
沪公网安备31011502016460号
