X射线荧光镀层厚度测量仪SFT9100M型
价 格：询价
产 地：日本更新时间：2020-10-29 16:19
品 牌：SII型 号：SFT9100M型
状 态：正常点击量：2219
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特点
操作非常简单。
运用激光焦点的功能，简单的调整位置。
针对有凹凸的样品也搭载了放心的防止冲突传感器。
搭载焦点切换机构，可以对高的样品的低部分进行测定。(任意选择)
采用可以测定大型打印基板的狭小间隙机构。
产品参数
| 型号SFT9100系列射线源空冷式小型X射线管准直器2种类型 0.1、0.2mmφ计算机CPU(AT互换电脑)、HDD、FDD、MS-Windows®过滤装置数字过滤装置样品平台台面尺寸：220（W）x 150（D）mmZ移动量：50mm(使用spacer可达到150mm)
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产品介绍
产品介绍:
利用荧光X射线的镀膜厚度测量仪。可以测定构造部分等有凹凸的样品和打印基板等大面积的样品。配合采用激光射线的Z轴方向的焦点，发挥测定值的再现性。而且实现了价格低。
沪公网安备31011502016460号
