X射线荧光镀层厚度测量仪SFT9200M型
价 格:询价
产 地:日本更新时间:2020-11-19 10:47
品 牌:SII型 号:SFT9200M型
状 态:正常点击量:2436
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特点
·是SFT3000系列的后续机型。
·依据照明,可以看到以前观察困难的样品。
·搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。
·运用激光聚焦功能简单实现位置的调整。
·微小领域的观察也很容易。搭载了能4阶段切换的可变焦距透镜。(任选)
·搭载了焦点切换功能,能够对有高度的样品的低部分进行测定。(任选)
产品参数
型号SFT9200系列射线源空冷式小型X射线管准直器型 0.2 x0.05mm、0.05 x0.2mm型0.1mm,0.2mm、0.3mmφ样品观察CCD照相机过滤器Co:自动切换样品平台移动量: 220(X)x 150(Y)x 150(Z)mmX-ray Station电脑(Windows2000®)17英寸CRT
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产品介绍
产品介绍:
运用荧光X射线测定镀膜厚度。本公司的SFT系列膜厚测量仪被称作标准的机器。有小型零部件用的SFT9200和大型打印基板用的SFT9255。装备着防止样品和设备构造不***致的功能。