X荧光测厚仪EDX600
价 格：询价
产 地：上海更新时间：2020-10-21 16:31
品 牌：天瑞仪器型 号：EDX600
状 态：正常点击量：2106
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产品参数
分析范围 :1PPM---99.99%
测量时间 :60---300 秒
分析精度 :0.1%---99.99%
测量范围 :Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru 、Pt
测镀层厚度、精度：0.03um
重 量 :30KG
尺 寸 :350*500*400mm
X射线源 :X射线光管。
探测器 :正比计数管
沪公网安备31011502016460号
