这款***新研发的产品X-Strata980运用X 荧光原理实现痕量元素分析及镀层厚度测量，结合大功率X射线光管和高分辨率探测器，检测下限达到PPM精度，并具有超强的分析模型。牛津仪器新产品研发中心总监Dr. Andy Ellis表示，这款新产品的发布标志着牛津仪器已经成为全球唯***的能提供包括便携式、台式（微聚焦、块状分析）XRF分析仪器的供应商，能够为客户提供针对RoHS筛选的完整解决方案。
 

X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。

100瓦X射线管  

25mm2PIN 探测器 

多准直器配置 

扫描分析及元素分布成像功能 

灵活运用多种分析模型 

清晰显示样品合格/不合格 

超大样品舱 

同时分析元素含量和镀层厚度