美国solar Metrology SMX-BEN太阳能光伏薄膜电池镀层测厚仪
价 格：询价
产 地：美国更新时间：2020-11-05 11:52
品 牌：Solar Metrology型 号：SMX-BEN
状 态：正常点击量：2398
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1. 全球唯***能提供NIST等***的标准样品，与美***NREL共同合作。
2. 超大样品室，H:56cmXW;54cmXD74cm
3. 可直接储存及建立各种镀层的Protocol参数，可设定多点分析，以确定制程品质。
4. 针对CIGS各种镀层材质的滤光片，共5种
5. X-Y-Z三轴自动定位，轴承***长距离为8”X8”X6”，并有自动聚焦弁?/div>
6. 具有表面相对等距自动调整系统
7. 采用自然光，LED白光，无色差
8. 采用***新高科技的高灵敏度的电子式冷却侦测器
9. 具有防撞安全装置
10. 具有操作时辐射安全装置
11. 可将实验室建立的数据直接复制至线上检测机台上。
产品参数
美国solar Metrology 太阳能薄膜电池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度测量仪
X射线发生部 | 电压 | 最大50kV，多段电压切换 |
电流 | 4-1000μA，可做自动调整设定 |
准直器 | 共五个 |
侦测器 | Pin or Si |
检测器 | 冷却方式 | 电子冷却 |
五种滤波器自动切换 | |
电源 | AC110~240V, 50/60 Hz |
| 镀层厚度分析 |
(1)分析CIGS各镀层的厚度及成份同时测量。
(2)分析CdTe之各镀层的厚度及成份同时测量。
(3)三、五族元素各镀层的成分比例及厚度分析。 |
产品介绍
美***solar Metrology 太阳能薄膜电池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度测量仪
其他型号：
薄膜太陽能檢測設備：
應用於薄膜太陽能電池CIGS及CdTe與III及V族厚度及成份分析。
桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN:全球唯***能提供NIST標準樣品，快速(60秒內)非破壞檢測。
生產製程專用模組 SMX-FPV: 適合於設備商turn-key使用，直接OEM與生產製程端整合。
即時監測設備(In-Situ) SMX-ISI: 適用於roll to roll、真空與非真空製程腔體內檢測，可耐高溫至 300°C。
產線自動檢測系統(In-Line) SMX-ILH:適用於各種製程產線上不同檢測點上，可依現場Layout 做不同方式進樣。
沪公网安备31011502016460号
