***新式的高精度内部光学测量仪器。通过电缆释放装置（cable release）或空气压力连接柱塞驱动。适用于薄膜厚度、位移、位置及尺寸的精确测量。LE 系列是大部分测量应用的理想仪器。

LE系列是***热销的产品，因为它的精确度高及低压能力均十分出众。主要客户是塑料薄膜生产商及硅片生产商。

系统高精度：优于± 0.2 μm
固钢支架：直径80mm的坚固钢圈及铸钢基座，适用于精确的重复测量。
线性：贯穿整个12mm或25mm的测量范围。
操控简便：提供控制器的用户友好设置界面，可设置单位及其它特性。
压强极低：LE 1000-2的修正版本可提供“最低压强”，适用于薄膜厚度测定
RS-232 输出：可连接计算机或数据采集系统
数据采集系统：传输实时数据到Excel®, Access®或其它Windows适用程序，可同时将信息发送到CSV 磁盘文档 (可选择)
自动归零按钮：仪器闲置时可自动归零，轻易实现测量的增减。
柱塞驱动：通过电力释放装置，或工作部件，或气压
测量范围更长：60mm及100mm适用
LCD显示：可显示测量结果、设置参数及操控功能。
完整的系统：包括传感器、控制器、支架、钢索起重器(with MT12/25)及std. 测量端