太阳能硅片厚度测量的设备，检测太阳能硅片厚度用什么设备？检测太阳能硅片厚度可以用济南三泉中石实验仪器有限公司生产的太阳能硅片厚度仪CHY-U来检测。CHY-U型太阳能硅片厚度仪完全满足 GB/T 6618-2009《硅片厚度和总厚度变化测试方法》要求，配有自动进样器，可完成2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度精确测量。在太阳能硅片的生产过程中能够起到重要作用。

技术参数              

测量范围           0-2mm （其他量程可定制

分辨率             0.1um

测量速度           10次/min（可调）

测量压力           17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）

接触面积           50mm2（薄膜），200mm2（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种

进样步矩           0 ～ 1300 mm(可调)

进样速度           0 ～ 120 mm/s(可调)

机器尺寸           450mm×340mm×390mm (长宽高)

重    量             23Kg

工作温度             15℃-50℃

相对湿度             最高80%,无凝露

试验环境             无震动，无电磁干扰

工作电源             220V 50Hz 

为什么检测太阳能硅片厚度？

在太阳能硅片生产过程中，硅片厚度有***定的偏差范围，对于180μm厚度的硅片，其偏差范围为±20μm，超过此范围则成为不良品--薄厚片，薄厚片的存在会影响产品的合格率，同时会影响电池片的生产工艺。通过对薄厚片的类型及产生原因进行分析，可以更好地减少薄厚片的产生，搭配CHY-U型太阳能硅片厚度仪对硅片厚度进行测量，可提高产品的成品合格率。

太阳能硅片厚度测量的方法：

标准 GB/T 6618-2009《硅片厚度和总厚度变化测试方法》中给出了硅片厚度的测量方法，并对检测仪器的相关参数做出了规定：

1.测厚仪由带指示仪表的探头及支持硅片的夹具或平台组成。

2.测厚仪应能使硅片绕平台中心旋转，并使每次测量定位在规定位置的2mm范围内。

3.仪表***小指示量值不大于1μm。

4.测量时探头与硅片接触面积不应超过2mm2。