1、 工业***摄像头高速采集，光学显微镜放大成像，图像快速显示于电脑，直接观察颗粒形貌，专用软件进行颗粒数据处理。
2、 提供等面积和等周长两种基准下的个数、直径、面积、体积、圆形度等分布数据。同时提供颗粒数、D10、D50、D90、平均粒径、表面积、长径比等粒度分布数据，配有(30)多种图像分析和处理功能，可以满足各种图像处理需要。
3、 对采集的图像进行调整高度、宽度、亮度、对比度、滤波、填充等，提高分析分辨率，网格标注颗粒尺寸等功能，使测试结果更真实可靠。
4、 颗粒形貌图像可存盘和打印，还可输出多种格式的测试报告。另可根据行业特殊要求，设计磨料、硅灰石等专用软件。

1、测量范围：0.5μm～3000μm
2、全平场消色差物镜，最大分辨率0.07微米，最大光学放大倍数1600倍，打印最大倍数4000倍(A4幅面)

JX-2000颗粒形貌分析仪，该系统由光学显微镜、USB摄像机、图像分析软件、电脑、打印机等部分组成。能准确的进行颗粒形貌分析，并进行颗粒数据处理，测试颗粒粒度分布，适用于控制分析产品质量。

仪器分二种型号，技术原理、参数都相同，JX-2000A颗粒形貌分析仪配置透射显微镜，JX-2000B颗粒形貌分析仪配置透反射显微镜，后者还可用于陶瓷、金属等各种不透光物体表面晶形的观察分析。