四探针电阻率测试仪BEST-300C
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产 地：北京更新时间：2025-02-11 13:03
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产品介绍
四探针电阻率测试仪BEST-300C
对悔 校准样品，在四探针测R过的区域至少徽2次扩展电阻测Ω，测显的长度大约等于四操针的网外探针之间的距离。
电流输出：直流电流?0～1000mA?连续可调，由交流电源供电。为保证小信号测量条件，应使探针电势不大于 20 mV。电导率：5×10-6～1×108ms/cmGB/T 1555 半导体单晶晶向测定方法GB/T 14847 重掺杂衬底上轻掺杂建外延层厚度的红外反射测显方法式中;p—-—电阻率，单位为欧姆厘来（0·cm）; a——接触率径，单位为厘米（cm） R，——扩展电阻，单位为欧姆（N），等式成立需符合如下三个假定条件;测量按CGB/T 1S59 确定样品的导电类型，按GB/T 15 确定样品的晶肉;如样晶为外题片，按 GB/T 14847 确定样品外延层的厚度， 按 6 章制备好样品。
