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价 格：询价
产 地：日本更新时间：2020-10-15 16:49
品 牌：岛津型 号：mEDX-1200/1300/1400型
状 态：正常点击量：2959
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过去的X射线荧光光谱仪难以高灵敏度地分析很小的样品。对于因分辨率不足即使X射线强度足够也难以进行的电子部件、电路板以及食品中的异物等微小局部的测定，本装置可进行高灵敏度、高分辨率、分析直径***小至50mm的分析。
测定原理 x射线荧光分析法 测定方法 能量散射型 测定对象 固体、液体、粉体 测定范围 13AI ~ 92U(mEDX-1200) 11Na ~ 92U(mEDX-1300) 13AI ~ 92U(mEDX-1400) x射线管 Rh靶 检测器 Si(Li)半导体检测器 (mEDX-1200,1300),Si漂移半导体 检测器(mEDX-1400) 样品型状 最大150mm×150mm×40mmH
XL2 尼通手持式荧光光谱仪 合金分析仪
prism激光小孔法X射线应力分析仪
检测不锈钢Bruker S1 TITAN手持式合金分析仪
天瑞ROHS检测仪
ROHS卤素一体机EDX1800E
沪公网安备31011502016460号
