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X荧光光谱(XRF)
能量色散X荧光光谱仪EDX8000
价 格：询价
产 地：能量色散X荧光光谱仪EDX8000更新时间：2020-10-15 17:41
品 牌：天瑞仪器型 号：EDX8000
状 态：正常点击量：2069
400-006-7520
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产品参数
分析精度: 0.05%
分析含量范围：1PPM-99.99%
测量元素：从硫至铀等75种元素
最小距离：0.01mm
测量时间：60~300秒
工作温度：15~30°C
相对湿度：< 70%
重量：30KG
工作电压：AC 110/220V
配 置：
单样品腔计
算机、喷墨打印机
硅针半导体探测器
放大电路
高低压电源
X光管
双激光定位系统
50至100倍物体放大
产品介绍
高精密定位测量系统，用于RoHS检测和镀层检测。在镀层检测中，该款仪器可以惊奇地逐点测试被测对象，并给出完整的含量和镀层的平面分析图谱。
沪公网安备31011502016460号
