QDI 2010
全光谱（紫外-可见-近红外）显微分光光度计。

QDI 2010™***先进的紫外可见近红外显微分光光度分析系统。
无损测量样品的透射，反射，荧光和偏振光谱，采样面积可以小于1微米，适合做样品的显微光谱分析。

测试OLED平板显示器： OLED平板显示器代表了***新显示技术。QDI系列显微分光光度计可用于开发，分析和质量控制RGB和宽带电致发光磷光体，RGB和宽带电致发光磷光体用于制造下***代新型平板显示器。

QDI 2010 TM 堪称紫外可见近红外显微分光光度计的新标准。
QDI 2010TM 能够对显微样品***次扫描完成从深紫外光到近红外光谱的采集。能够分析各种样品，从纺织品纤维到200毫米的半导体硅晶片，从纳米材料到光子晶体，无论是实验室还是工厂，QDI 2010 TM 都是理想的分析仪器。

QDI 2010™的预校正光谱仪配备科研***阵列探测器（CCD或PDA）。
每个阵列探测器都可选配半导体冷却器制冷以达到***低的噪声和长期稳定性，确保仪器获得***佳信噪比。采用科研***紫外-可见光-近红外显微镜，高分辨率彩色数字成像系统，紫外屏蔽目镜，计算机服务器预装WINDOWS XP 操作系统，综合性的仪器控制／光谱分析软件包。
QDI 2010™ 操作简单，耐用，为使用者提供***优质的测试分析结果。