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扫描探针显微镜(SPM)/原子力显微镜
PNI Nano-R2扫描探针显微镜
价 格:询价
产 地:美国更新时间:2020-10-29 18:03
品 牌:Pacific Nanotechnology型 号:PNI Nano-R2 AFM
状 态:正常点击量:1476
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1) Nano-R2型AFM是10万美金以下进口设备中唯***配备2英吋圆形样品台与自动控制样品台的原子力显微镜, 特别适合对2英吋大样品的测量。
2)高性能的闭环式(Closed Loop)扫描器, 定位***, 误差小于1nm。
3)可选两种扫描器:Light-Level扫描器和Crystal Force扫描器。
4)Crystal Force扫描器为太平洋纳米科技公司的专利, 具有不须校正激光光路、快速扫描与操作容易等优点。对于公共实验室与需要量测大量样品的客户, Crystal Force扫描器是***佳选择。
5)可配置环境控制箱, 可控制环境的温度、湿度与通气氛等强大功能。
6)可选配EFM/KPM、导电模式、磁力模式/MFM、摩擦力模式、纳米刻蚀 Dip-Pen Nanolithography、探针加热模式(探针温度***高可达700摄氏度)、加热样品台、液体池等。
7)Nano-Rp是美***太平洋纳米科技公司专门为分析纳米颗粒粒径分析的原子力显微镜。
产品参数
高性能闭环平板式扫描器
X-Y扫描:探针扫描( Tip Scan)
范围:>80um
线性:<1%
Z-Scan:
范围:>8um
分辨率:<0.1nm
彩色视频显微镜
放大倍数:大于1000
自动放大/聚焦:4
视野:140um*190um
分辨率:1.5um
自动X-Y样品台:
范围:25.4 x 25.4 mm
步长:<3um
回转速率:2.5mm/sec
扫描模式:
—接触模式
—振动模式
—非接触模式
—侧向力模式
—材料感应模式
—力/距离曲线
选配模式:
-电学模式(EFM/Kevin Probe) :非抬起模式, 采用独立的锁相放大器探测
-导电模式(SHARK):电流测量范围: fA-mA
-磁力模式
-纳米刻蚀 Dip-Pen Nanolithography
-探针加热模式( SThM, 探针温度最高可达700摄氏度)
-全新纳米颗粒粒径分析软件
-恒温恒湿环境控制箱
-脉冲力模式 (Pulse Force Mode): 此为PNI公司独家开发出来, 针对软物质与黏弹性之测量
产品介绍
PNI 公司背景: 1997 年创建时名称为Pacific Scanning,是******专业生产AFM 控制器和其它零部件的企业,主要为全世界大型AFM 公司(包括Thermo Microscopes 公司)提供代工(OEM)服务,2001 年Thermo 被收购后其技术高管(Gary Aden 和Paul West等)便入主Pacific Scanning 公司,并更名为现在的Pacific Nanotechnology 公司。PNI 公司为了更好地服务于中***,与实密***际贸易(上海)有限公司建立了合作关系。PNI 公司融合了美******新电子学技术和日本Toyo 公司多年SPM 技术支持的实际成果率先开发出高线形扫描器SPM,能够满足科研和工业用户的多方面性能和操作的需要。所有的型号都配备高性能的“Closed Loop”(闭环)控制线性扫描器。
Nano-R2™型扫描探针显微镜(SPM)系统是用于科学实验室的第二代扫描探针显微镜。它功能强大,是***款获取图像和检测纳米***特征结构的多用途扫描探针显微镜。Nano-R2™ 扫描探针显微镜可以同时使用两个版本的图像采集软件:X-pert™ 专******和EZ Mode™简易***,分别适用于专******用户和初学用户。Nano-R2™包括所有AFM采集图像所需的主机、控制单元、集成设计的光学视频显微镜和自动化XYZ样品台,以及图像显示软件和分析软件。